Данный прибор использует лазерный диод в качестве источника света и кремниевый фотоэлемент для измерения распределения интенсивности света при дифракции. С его помощью можно наблюдать явление дифракции по Фраунгоферу на одиночной щели, одиночной проволоке и круглых апертурах. В ходе эксперимента изучается влияние длины волны, ширины щели и диаметра апертуры на дифракционную картину, что способствует более глубокому пониманию теории дифракции света. Корпус прибора выполнен из высокопрочного алюминиевого сплава высокого качества с анодированным покрытием поверхности.
Эксперименты:
1.Наблюдение дифракции на одиночной проволоке / одиночной щели
2.Измерение распределения интенсивности дифракции
3.Изучение зависимости интенсивности от длины волны
4.Установление зависимости интенсивности от ширины щели
5. Понимание принципа неопределённости Гейзенберга и принципа Бабине
КОМПЛЕКТАЦИЯ
1) Полупроводниковый лазер (P= 5.0 мВт, λ=650 нм)
2) Дифракционный элемент (проволока и регулируемая щель)
Лабораторный стенд поставляется в упаковочных кейсах с ложементом, методическим описанием, комплектом крепёжных элементов, набором для чистки оптики и инструментами.
Гарантийный срок всех товаров, приобретённых в интернет-магазине ООО «Квазар» составляет 1 год со дня отгрузки покупателю. На протяжении этого времени покупатель может воспользоваться ремонтом купленного оборудования по гарантии при условии соблюдения правил хранения и эксплуатации товара.
Подробнее о гарантии на товары.
Сообщения не найдены
Предложение не является публичной офертой. Сведения о характеристиках, комплекте поставки и внешнем виде могут отличаться от представленных на сайте. Актуальную информацию уточняйте у менеджера при оформлении заказа.
© Все материалы данного сайта являются объектами интеллектуальной собственности. Запрещается копирование, распространение или любое иное использование информации без предварительного согласия правообладателя.